L'échelle métrique d'intelligence de Binet naît dans un contexte où la psychologie s'intéresse surtout à des phénomènes élémentaires comme des mesures de temps de réponse à des stimuli.

Elle naît aussi dans un contexte social où l'institution éducative est à la recherche de moyens concrets pour repérer les enfants déficients intellectuellement.

Fin 1904 Binet devient membre d'une commission créée par l’Éducation nationale ; en 1905 il installe un laboratoire de recherche dans une école où il va travailler notamment avec Théodore Simon.Il publie alors la première version de son échelle métrique d'intelligence en 1908. Puis en 1911, année de la mort de Binet, deux autres versions de cette échelle verront le jour, l'échelle qui porte aussi le nom de test Binet-Simon va alors connaître un double destin.

De l'autre côté de l'Atlantique le test rencontre le succès mais il est très rapidement transformé. Lewis Terman à l'université Stanford, crée le Stanford-Binet qui deviendra très populaire et connaîtra de multiples versions et utilisations.En France le Binet-Simon n'aura pas de postérité directe avant d'être repris par René Zazzo qui le fera évoluer tout en conservant son esprit après la seconde guerre mondiale.

Aujourd'hui après bien des débats, le consensus sur l'utilisation de tests dans l'examen psychologique de l'enfant se rapproche finalement de l'esprit dans lequel Binet, le précurseur, a créé son échelle métrique d'intelligence.

Cette partie s'intéresse aux trois versions du "Binet-Simon".

Le Binet et Simon est un test de développement intellectuel, datant de 1905 et mis au point par les docteurs et psychologues français Alfred Binet et Théodore Simon.

Cette partie s'intéresse à la naissance de "l'échelle métrique de l'intelligence".

Cette partie s'intéresse à la postérité française de l'échelle psychométrique de Binet de Simon.

Cette partie s'intéresse à la postérité américaine de l'échelle psychométrique de Binet de Simon.